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產品詳情
  • 產品名稱:涂層測厚儀可選附件

  • 產品型號:F1、N1、F400、F10、CN02、F1/90
  • 產品廠商:times
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簡單介紹:
涂層測厚儀可選附件-探頭 F1探頭 F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標準探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍 涂層測厚儀可選附件:F1探頭、N1探頭、F400探頭、F10探頭、CN02探頭、F1/90探頭
詳情介紹:

涂層測厚儀可選附件-探頭
F1探頭

      F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標準探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT291涂層測厚儀的標配探頭。

測頭型號 F1
工作原理 磁感應
測量范圍(um) 0-1250
低限分辨力(um) 0.1
示值誤差 一點校準(um) ±[3%H+1]
兩點校準(um) ±[(1~3)%H+1]
測量條件 *小曲率半徑(mm) 凸1.5
基體*小面積的直徑(mm) ф7
*小臨界厚度(mm) 0.5
探頭尺寸(mm) ф12X47

N1探頭

N1探頭是渦流法涂層測厚儀測量的通用標準探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT270P覆層測厚儀的標配探頭。
測頭型號 N1
工作原理 電渦流
測量范圍(um) 0-1250(銅上鍍鉻0-40um)
低限分辨力(um) 0.1
示值誤差 一點校準(um) ±[3%H+1.5]
兩點校準(um) ±[(1~3)%H+1.5]
測量條件 *小曲率半徑(mm) 3
基體*小面積的直徑(mm) ф5
*小臨界厚度(mm) 0.3
探頭尺寸(mm) ф15X73
 
F1/90探頭

    覆層測厚儀選配F1/90探頭,主要用于管材內壁的涂層厚度測量。它細長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達的細管中。夾層和細縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。
測頭型號 F1/90
工作原理 磁感應
測量范圍(um) 0-1250
低限分辨力(um) 0.1
示值誤差 一點校準(um) ±[3%H+1]
兩點校準(um) ±[(1~3)%H+1]
測量條件 *小曲率半徑(mm) 平直
基體*小面積的直徑(mm) ф7
*小臨界厚度(mm) 0.5
探頭尺寸(mm) 7.5X11X200
 
    
F10探頭

      涂鍍層測厚儀選配F10探頭,測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um,主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應增配2000um、4000um、8000um的標準校準片,用于校準儀器。
測頭型號 F10
工作原理 磁感應
測量范圍(um) 0-10000
低限分辨力(um) 10
示值誤差 一點校準(um) ±[3%H+10]
兩點校準(um) ±[(1~3)%H+10]
測量條件 *小曲率半徑(mm) 10
基體*小面積的直徑(mm) ф40
*小臨界厚度(mm) 2
探頭尺寸(mm) ф27X47
 
F400探頭

      涂鍍層測厚儀選配F400探頭,主要用于較薄厚度的涂層測量,可獲得更**的測量結果和更高的重復性,另外在管材基體直徑較小或者被測區域接觸面積較小時,F400探頭也是*佳的選擇。
測頭型號 F400
工作原理 磁感應
測量范圍(um) 0-400
低限分辨力(um) 0.1
示值誤差 一點校準(um) ±[3%H+1]
兩點校準(um) ±[(1~3)%H+0.7]
測量條件 *小曲率半徑(mm) 凸 1
基體*小面積的直徑(mm) ф3
*小臨界厚度(mm) 0.2
探頭尺寸(mm) ф12X55
 
CN02探頭

     漆膜測厚儀選配CN02探頭,主要用于測量線路板上的銅箔厚度,檢測范圍在10-   200um之間。
測頭型號 CN02
工作原理 電渦流
測量范圍(um) 10-200
低限分辨力(um) 1
示值誤差 一點校準(um) ±[3%H+1]
兩點校準(um) -
測量條件 *小曲率半徑(mm) 平直
基體*小面積的直徑(mm) ф7
*小臨界厚度(mm) 無限制
探頭尺寸(mm) ф16X67
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